手(shou)持(chi)式X射線熒(ying)(ying)光(guang)儀鐵上鍍鎳標(biao)準(zhun)片Ni/Fe,X射線熒(ying)(ying)光(guang)手(shou)持(chi)式儀器標(biao)準(zhun)片適(shi)用于X射線類(lei)儀器的校準(zhun)。市面上絕大多(duo)部分(fen)的手(shou)持(chi)式熒(ying)(ying)光(guang)儀的厚度標(biao)準(zhun)件都來自于美國Calmetrics公司。
更新時間(jian):2023-09-07
品牌 | Calmetrics/美國 | 價格區間 | 1千-5千 |
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 能源,電子 |
規格 | Ni/Fe999?700uin/17.5um |
手持式X射線熒光儀鐵上鍍鎳標準片Ni/Fe產品圖片:
手持式X射線熒光儀鐵上鍍鎳標準片Ni/Fe700uin/17.5um
美(mei)國Calmetrics公司專業生產X射(she)線(xian)熒光鍍層薄膜標(biao)(biao)(biao)準(zhun)(zhun)件(jian)及元素(su)含量標(biao)(biao)(biao)準(zhun)(zhun)件(jian),提供對標(biao)(biao)(biao)準(zhun)(zhun)件(jian)的校準(zhun)(zhun)服務,公司通(tong)過(guo)ISO/IEC 17025認證。公司提供所有(you)證書符合(he)NIST(National Institute of Standards and Technology美(mei)國國家標(biao)(biao)(biao)準(zhun)(zhun)與技術研(yan)究(jiu)院)標(biao)(biao)(biao)準(zhun)(zhun)或(huo)ANSI(American National Standards Institute美(mei)國國家標(biao)(biao)(biao)準(zhun)(zhun)學會)標(biao)(biao)(biao)準(zhun)(zhun)。其生產的標(biao)(biao)(biao)準(zhun)(zhun)片(pian)質量精良(liang),精度高(gao)、穩(wen)定性好。
Calmetrics鍍(du)層標準片適(shi)用于費(fei)希爾Fischer、韓國ISP、日立(li)Hitachi(包括(kuo):牛津儀(yi)器(qi)Oxford(CMI)、精工Seiko)熱電(dian)Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津、電(dian)測、納優、天瑞(rui)、華唯(wei)等各廠(chang)牌的(de)測厚儀(yi)。
X射線測厚(hou)儀鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)標準片(pian)一般分為單鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian),雙(shuang)(shuang)鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)、多鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)、合(he)金鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)、化學鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)。如:單鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng):Au/xx,雙(shuang)(shuang)鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng):Au/Ni/xx,三鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng):Au/Pd/Ni/xx,合(he)金鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng):Sn-Pb/xx,合(he)金鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng):Ni-P/xx。
X射(she)線熒光儀鐵上鍍(du)鎳(nie)標準(zhun)片(pian)Ni/Fe適(shi)用于(yu)X射(she)線類儀器的標準(zhun)。市面上絕大多(duo)部分的手(shou)持式熒光儀的厚度(du)標準(zhun)件都來自(zi)于(yu)美(mei)國Calmetrics公司。
X射線(xian)熒光儀(yi)鐵上鍍鎳標(biao)準(zhun)片(pian)Ni/Fe又叫膜(mo)厚儀(yi)校準(zhun)片(pian)或者薄膜(mo)片(pian),專(zhuan)業用于(yu)X射線(xian)測(ce)厚儀(yi)(膜(mo)厚儀(yi))在(zai)測(ce)金屬鍍層厚度時進(jin)行的儀(yi)器標(biao)準(zhun)化校準(zhun)及建(jian)立測(ce)量(liang)分析檔案。
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