美國Calmetrics標準片鐵底材上鍍鉻Cr/Fe標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)片是(shi)用來(lai)為膜厚測(ce)試儀(yi)建立(li)標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)檔案的，同(tong)時也是(shi)檢驗和校準(zhun)(zhun)(zhun)膜厚測(ce)試儀(yi)測(ce)試數據是(shi)否準(zhun)(zhun)(zhun)確的為一標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)。它屬于易(yi)損易(yi)耗件，但是(shi)其(qi)的使(shi)用壽(shou)命(ming)卻與操作方法及存放(fang)環境息(xi)息(xi)相(xiang)關，若操作得當(dang)，小(xiao)心(xin)保護且存放(fang)在(zai)干燥密(mi)封的皿器內，那么可大大延長其(qi)的使(shi)用時間。膜厚標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)片是(shi)膜厚測(ce)試儀(yi)（X射(she)線鍍層測(ce)厚儀(yi)）*的。

美國Calmetrics標準片鐵底材上鍍鉻Cr/Fe實物圖片：

美(mei)國Calmetrics公(gong)司專業(ye)生(sheng)產(chan)(chan)X射線熒光鍍層薄膜標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)件(jian)及(ji)元素含(han)量(liang)標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)件(jian)，提(ti)供(gong)對標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)件(jian)的校準(zhun)(zhun)(zhun)服務，公(gong)司通過ISO/IEC 17025認證(zheng)。公(gong)司提(ti)供(gong)所有證(zheng)書(shu)符合NIST（National Institute of Standards and Technology美(mei)國國家標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)與技術研究院）標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)或ANSI（American National Standards Institute美(mei)國國家標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)學會）標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)。其(qi)生(sheng)產(chan)(chan)的標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)片(pian)質(zhi)量(liang)精良，精度高(gao)、穩定性好。

Calmetrics鍍層標準片適用于費(fei)希爾Fischer、韓國ISP、日立Hitachi（包(bao)括：牛津儀器(qi)Oxford（CMI）、精工(gong)Seiko）熱電(dian)Thermo、Veeco、微先(xian)鋒Micro Pioneer、島津、電(dian)測、納優、天瑞、華(hua)唯等各(ge)廠牌的(de)測厚(hou)儀。

X射(she)線測厚儀(yi)鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)標(biao)準片一般分為單鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)片，雙鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)片、多(duo)鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)片、合(he)金(jin)鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)片、化(hua)學(xue)鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)片。如：單鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)：Au/xx，雙鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)：Au/Ni/xx，三鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)：Au/Pd/Ni/xx，合(he)金(jin)鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)：Sn-Pb/xx，合(he)金(jin)鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)：Ni-P/xx。

鍍層(ceng)標準片適用于X射線類儀(yi)器的標準。市面上絕大(da)多部分的手持式熒光(guang)儀(yi)的厚度標準件都(dou)來(lai)自于美(mei)國Calmetrics公司。

X射線(xian)標準片又叫(jiao)膜(mo)厚儀校(xiao)準片或者(zhe)薄膜(mo)片，專(zhuan)業(ye)用于X射線(xian)測(ce)厚儀（膜(mo)厚儀）在測(ce)金屬鍍層(ceng)厚度時進行的(de)儀器(qi)標準化(hua)校(xiao)準及(ji)建立(li)測(ce)量(liang)分析檔(dang)案。

美國Calmetrics標準片鐵上鍍鉻Cr/Fe 10um常用規格如下：