美國Calmetrics標準片銅底材上鍍鎳Ni/Cu標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)片(pian)是用(yong)來為(wei)膜(mo)厚測(ce)試(shi)儀(yi)建立標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)檔案的(de)，同時(shi)也是檢(jian)驗和校準(zhun)(zhun)膜(mo)厚測(ce)試(shi)儀(yi)測(ce)試(shi)數據是否準(zhun)(zhun)確的(de)為(wei)一(yi)標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)。它屬于(yu)易損(sun)易耗(hao)件，但是其的(de)使用(yong)壽(shou)命卻與(yu)操作方法及存放環境息息相(xiang)關，若操作得當(dang)，小心保(bao)護且存放在干(gan)燥密封的(de)皿器內，那么可大大延長其的(de)使用(yong)時(shi)間。膜(mo)厚標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)片(pian)是膜(mo)厚測(ce)試(shi)儀(yi)（X射線鍍(du)層測(ce)厚儀(yi)）*的(de)。

美國Calmetrics標準片銅底材上鍍鎳Ni/Cu實物圖片：

美(mei)(mei)國(guo)Calmetrics公司(si)專業(ye)生(sheng)產(chan)X射線熒光鍍層(ceng)薄膜(mo)標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)件及元素含量標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)件，提供對標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)件的校準(zhun)(zhun)(zhun)服務，公司(si)通過ISO/IEC 17025認證。公司(si)提供所有證書符合NIST（National Institute of Standards and Technology美(mei)(mei)國(guo)國(guo)家(jia)標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)與技術研究院）標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)或ANSI（American National Standards Institute美(mei)(mei)國(guo)國(guo)家(jia)標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)學會）標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)。其生(sheng)產(chan)的標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)片質量精良，精度高、穩定性(xing)好。

Calmetrics鍍(du)層(ceng)標準(zhun)片適用(yong)于費希爾(er)Fischer、韓(han)國ISP、日(ri)立Hitachi（包括：牛津儀(yi)器Oxford（CMI）、精工Seiko）熱電Thermo、Veeco、微先(xian)鋒Micro Pioneer、島(dao)津、電測(ce)、納(na)優、天瑞(rui)、華(hua)唯等(deng)各(ge)廠牌的測(ce)厚儀(yi)。

X射線測厚儀(yi)鍍(du)(du)層(ceng)標準片(pian)(pian)一(yi)般分為單鍍(du)(du)層(ceng)片(pian)(pian)，雙(shuang)(shuang)鍍(du)(du)層(ceng)片(pian)(pian)、多鍍(du)(du)層(ceng)片(pian)(pian)、合(he)金鍍(du)(du)層(ceng)片(pian)(pian)、化學鍍(du)(du)層(ceng)片(pian)(pian)。如：單鍍(du)(du)層(ceng)：Au/xx，雙(shuang)(shuang)鍍(du)(du)層(ceng)：Au/Ni/xx，三鍍(du)(du)層(ceng)：Au/Pd/Ni/xx，合(he)金鍍(du)(du)層(ceng)：Sn-Pb/xx，合(he)金鍍(du)(du)層(ceng)：Ni-P/xx。

鍍層(ceng)標準片適用(yong)于X射線類(lei)儀器(qi)的標準。市面上絕大多部分(fen)的手持式熒光儀的厚度標準件都(dou)來自(zi)于美國Calmetrics公司。

X射(she)線(xian)(xian)標(biao)準(zhun)片(pian)又叫膜(mo)(mo)厚(hou)儀校準(zhun)片(pian)或者薄膜(mo)(mo)片(pian)，專業用于X射(she)線(xian)(xian)測(ce)厚(hou)儀（膜(mo)(mo)厚(hou)儀）在(zai)測(ce)金屬鍍層(ceng)厚(hou)度時(shi)進(jin)行的儀器標(biao)準(zhun)化(hua)校準(zhun)及建立(li)測(ce)量分析(xi)檔案。

美國Calmetrics標準片銅底材上鍍鎳Ni/Cu常用規格如下：